证结果与创科公布的数据完全一致 —— 核心模块误差值稳定在 0.02-0.023 毫米，高温、低温等极端工况下的稳定性均优于行业标准。“创科世纪从 30% 良品率到 92% 的技术突破，有完整的实验数据、工艺优化记录佐证，符合半导体行业技术迭代规律，其核心技术具备原创性与先进性。” 公告特别强调，“部分机构散布的‘技术造假’‘数据篡改’言论，缺乏任何有效证据支撑，实质是为阻碍竞争对手发展的恶意竞争行为。”
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